KRÜSS ha aggiunto il metodo Constrained Sessile Drop al suo portafoglio di misure

Date: 14/04/2022
Categorie: Istituzionali

KRÜSS ha ampliato il proprio portafoglio di analisi dell'interfaccia ottica con un metodo particolare per misurare la tensione superficiale ad alte temperature.

KRÜSS ha recentemente annunciato di aver ampliato il proprio portafoglio di analisi dell'interfaccia ottica con il metodo Constrained Sessile Drop (Constrained SD), che consente la misurazione della tensione superficiale utilizzando una singola goccia sessile. Questa aggiunta consentirà di eseguire rapidi controlli di purezza dei liquidi di prova dell'angolo di contatto e analisi di materiali fusi ad alte temperature.

La tecnica Constrained SD osserva come le forze opposte della tensione superficiale (SFT) e della gravità influenzino la forma di una goccia: se si conoscono la densità e le dimensioni di una goccia sessile dosata, la SFT può essere calcolata mediante l'analisi dell'immagine del suo contorno.

I liquidi di prova utilizzati per le misurazioni dell'angolo di contatto sono fortemente influenzati da quantità anche minime di impurità tensioattive come quelle lasciate dai detergenti, che potrebbero causare risultati falsi. Il controllo dell'SFT del liquido di prova utilizzando il metodo Constrained Sessile Drop vincolata fornisce quindi un rimedio efficace: le misurazioni sono veloci, non richiedono modifiche all'impostazione della misurazione e possono essere integrate senza soluzione di continuità nelle attività di controllo qualità quotidiane.

Poiché un singolo campione può essere fuso direttamente sul piedistallo del campione, non sono necessari né recipienti né unità di dosaggio ad alta temperatura, gli operatori quindi non devono eseguire preparazioni e operazioni di pulizia che richiedono tempo. Inoltre, la nuova tecnica Constrained SD aggiunta al portafoglio di analisi dell'interfaccia ottica di KRÜSS funziona bene in condizioni di isolamento termico, con la massima temperatura che può essere estesa fino a 2000° C utilizzando speciali lamierini di campionamento in ossido di zirconio, in combinazione con un elevato sistema di misurazione della temperatura.